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专利技术

中国专利审查信息查询

      发明专利名称:重量法物理吸附仪
    专利号:ZL201410128824.7
     保护点:
          ◆ 采用重量法原理确定气体及蒸汽吸脱附量的结构;
          ◆ 多样品测试结构;
          ◆ 蒸汽吸附与气体吸附切换结构;
          ◆ 饱和蒸汽压测试结构; 
 
      专利名称:重量法物理吸附仪
    专利号:ZL201420155921.0
     保护点:
          ◆ 采用重量法原理确定气体及蒸汽吸脱附量的结构;
          ◆ 多样品测试结构;
          ◆ 蒸汽吸附与气体吸附切换结构;
          ◆ 饱和蒸汽压测试结构; 
 
 

    专利名称:防止真空系统污染的重量法物理吸附仪
    专利号:ZL201420156173.8
     保护点:
         ◆ 具有防止真空系统被蒸汽污染的冷阱装置;
         ◆ 该冷阱装置和重量法蒸汽吸附仪为一体,为重量法蒸汽吸附仪的组成部分之一;
         ◆ 该冷阱装置可去除蒸汽分子等高沸点气体,提高真空度;

 

 

    专利名称:加热脱气炉
    专利号:ZL201420148362.0
     保护点:
         ◆ 具有真空隔热层的加热炉;
         ◆ 采用真空隔热层加高温隔热棉的组合隔热方式,相对普通保温棉隔热或空气隔热效果得到明显改善,减小热量损失,降低对附近部件温度影响;防烫,安全;
         ◆ 顶部出线结构;

      专利名称:蒸馏提纯装置及重量法物理吸附仪
    专利号:ZL201420155044.7
    
保护点:
        ◆ 具有可对液体有机试剂进行蒸馏提纯装置的重量法蒸汽吸附仪;
        ◆ 该蒸馏提纯装置和重量法吸附仪为一体式结构,为重量法吸附仪的组成部分之一;
        ◆ 该蒸馏提纯装置可程序控制自动进行;
      专利名称:能在线加注液氮的重量法蒸气吸附仪 
    专利号:ZL 201520633597.3
    保护点:
        ◆ 具有在线加注冷阱液氮的重量法蒸气吸附仪;
        ◆ 当冷阱装置中液氮过少时在仪器外部进行液氮加注;
        ◆ 避免了加液氮的过程中由于开关恒温室的门而影响封闭恒温系统的问题。
      专利名称:以气控阀代替电磁阀的真密度仪 
    专利号:ZL201220140709.8
    保护点:
        ◆ 气控阀的打开与关闭由压缩气体驱动,无电磁线圈,所以无发热,从而提高恒温区域温度稳定性;
        ◆  采用零发热的气控阀代替有发热的电磁阀的真密度仪,消除了电磁阀发热对测试气体温度稳定的影响;消除了该误差来源,提高了测试精度。 
      专利名称:具有以样品池直接作为测试腔的真密度仪 
    专利号:ZL201120436207.5
     保护点:
         ◆ 样品池直接作为测试腔的“下装式”的结构;不采用“上装式”的“样品池套装”结构,即测试腔桶内再放入盛样品的样品池的结构;
         ◆ 样品池直接作为样品测试腔,提高了样品测试腔的体积利用率,从而使测试精度得以提高;
         ◆ “下装卡口式”的样品池安装结构,可以方便的适应微体积和大体积装样的需求,扩大了仪器对样品外观体积的适应范围。
      专利名称:含有气源预恒温管真密度仪
    专利号:ZL201220708191.3
     保护点:
          ◆ 具有使进入基准腔的测试气体预先恒温的结构;
          ◆ 全自动程序化恒温模式,恒温精度误差<0.1℃;
          ◆ 程序化控制恒温过程,并自动进入测试过程。 
      专利名称:真密度及孔隙率分析仪内方样品池
    专利号:ZL201420149458.9
     保护点:
         ◆具有专门针对发泡材料符合国标GB/T 10799-2008 而设计的开闭孔率专用样品池,即内方样品池;
         ◆ 内方样品池的内部为立方体空间设计,可使样品池利用率达到 80%以上(国标要求 15%以上),大大高于普通圆柱内腔样品池;
         ◆ 相比圆柱形,立方体形样品更容易切割;
      专利名称:真密度分析仪(外观设计专利)
    专利号:ZL 201230104221.5
     保护点:
         ◆采用“下装式”样品池安装结构,提高对样品池体积的适应性;
         ◆ 全恒温结构,所有部件处于恒温室内,提高测试准确度。
      专利名称:具有真空助润装置的泡压法滤膜孔径分析仪
    专利号:ZL201420148359.9
     保护点:
         ◆ 采用真空助润,能够快速、高效的浸润样品,提高浸润效率,提高准确度。
         ◆ 快速开合结构;
         ◆ 该真空助润装置与主机为一体化
      专利名称:具有可适应多种样品尺寸的样品池的泡压法滤膜孔径分析仪 
    专利号:ZL201420148785.2
     保护点:
          ◆ 无需顶部进气管的样品池结构,方便安装和拆卸。
          ◆ 单样品池(样品安装位)可适应多种尺寸及类型的样品的结构。
          ◆ 通过不同的样品支架实现转换的结构,可测试不同直径的薄膜,无需多个样品池;
          ◆ 该样品池(样品安装位)还可以安装用于测试中空纤维膜的夹具,实现中空纤维膜的测试;
      专利名称:具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪
    专利号:ZL201420148783.3
     保护点:
          ◆ 具有基准腔恒温装置;
          ◆ 通过设置基准腔恒温装置可确保基准腔处于恒温,不受各器件温度变化影响,消除环境温度变化对基准腔体积及各个器件的影响;
          ◆ 减小了传感器的温度漂移而产生的误差。
      专利名称:加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪
    专利号:ZL201420148358.4
     保护点:
          ◆ 具有液氮杯自动加保温盖的结构,取代了人工加盖,提高了仪器自动化程度;
          ◆ 保温盖能有效的减少液氮的挥发;同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰。
          ◆ 保温盖可随液氮杯的伺服调节而移动;
      专利名称:具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪
    专利号:ZL201320045881.X
     保护点:
          ◆ 具有涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置;
          ◆ 能在防止粉尘污染的同时不降低气体的流导,避免阻隔式滤网装置阻隔粉尘但却造成流导小而无法获得高真空的问题;
          ◆ 结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象,从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。
      专利名称:具有风热助脱装置的比表面仪
    专利号:ZL200920110451.5 
     保护点:
 
         ◆ 具有可加快样品管恢复常温的吹风装置;通过对刚离开液氮处于低温状态的样品管,吹常温风,使样品管快速达到常温状态;
          ◆ 该“风热助脱”装置,相比增加前,可使脱附色谱峰形变得高而锐,从而达到提高测试分辨率和精度的目的;
          ◆ 该装置的启动和停止由程序自动控制;该装置和仪器主机为一个整体;
      专利名称:具有原位吹扫装置的比表面仪
    专利号:ZL200920110453.4
     保护点:
        
 ◆ 该脱气装置与仪器主机为一个整体(非分体式),实现了试样原位处理;
          ◆ 处理结束无需拆卸转移样品管,样品与空气零接触;
          ◆ 保证了样品预处理的高效性,有效提高测试精度;
      专利名称:氮气浓度检测器
    专利号:ZL200920110455.3
     保护点:
          ◆ 色谱法氮气分压检测系统,相对流量传感器,精度提高10倍;
          ◆ 使氮气浓度控制精度和检测精度均达到万分之一,提高测试准确性;
      专利名称:比表面仪U型样品管
    专利号:ZL200920110452.X
     保护点:
          ◆  U样品管一端为进气口,另一端为出气口,U形样品管的进气口一端的管径大于出气口端的管径;
          ◆  U型样品管的进气口端内径大,方便装填样品;出气口端内径小,减小“紊流”效应对测试精度造成的影响,可提高测试精度。
          ◆  该大进口小出口的结构,在不影响测试精度的前提下,增加了装样的方便性。
      专利名称:气体恒温装置及比表面仪
    专利号:ZL200920110454.9
     保护点:
          ◆ 该装置为动态色谱法比表面的一部分,可达到降低环境影响因素,从而提高仪器准确度的目的;
          ◆ 通过让测试气体在进入检测器前通过低温恒温管,使气体降温并恒温;
          ◆ 该检测器恒温装置,使检测器的零点漂移降低到<0.1mV/10min ,实现提高测试结果的准确性与稳定性的目的;
      专利名称:气体净化冷阱及比表面仪  【如上图】
    专利号:ZL200920110450.0 
     保护点:
          ◆ 该气体净化冷阱为比表面的一部分,与比表面仪为一个整体;
          ◆ 该气体净化冷阱对吸附质气体和载气进行净化,使气体纯度提高1个数量级以上,从而达到提高测试结果精度的目的;
          ◆ 该气体净化冷阱,还具有降低吸附质气体温度,从而提高热导池检测器灵敏度的作用;
      专利名称:比表面及孔径分析仪机箱
    专利号:ZL 201030177578.7
     保护点:
          ◆ 脱气系统与分析系统设置在同一台比表面及孔径分析仪上,脱气系统位于仪器的左边,分析系统位于仪器的右边,无需额外配备脱气处理装置;
          ◆ 脱气系统上设置独立的温度控制装置;
      专利名称:外压进气测试中空纤维膜孔径的夹具及泡压法孔径分析仪
    专利号:ZL 201030177578.7
     保护点:
          ◆ 可以采用外压进气方式测试中空纤维膜的夹具;
          ◆ 该夹具可与分析仪器快速密封链接的结构;
          ◆  可减小膜丝被压变形,提升纤维膜,尤其是外压纤维膜孔径测试的准确性;
          ◆ 能够更加真实的反映外压膜的过滤性能,使得测试出来的数值与实际应用更加具有可比性;
      专利名称:饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪
    专利号:ZL201620716311.2
     保护点:
          ◆ 饱和蒸汽压管采用螺旋状的P0管,与仪器主机连接;
          ◆ 螺旋P0管能够更快的达到液氮温度,使得测试的饱和蒸汽压更接近真实值,提高测试精度;
      专利名称:具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪
    专利号:
ZL201620714986.3
     保护点:
          ◆ 能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能;
          ◆ 彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染;
          ◆ 抽真空脱气时间缩短、效果提高;